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AM/FM信號(hào)發(fā)生器標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源
日期：2013-01-29瀏覽：2488次
AM/FM信號(hào)發(fā)生器標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源
LG 3236是頻率合成標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器﹐其頻率范圍很寬﹐從100 kHz 至 170 MHz﹐包括FM/AM 調(diào)制能力。高度的晶控參考振蕩器可以保證高穩(wěn)定性的RF頻率﹐穩(wěn)定性可達(dá) 5 10-6﹐即5 ppm。
RF 輸出系統(tǒng)采用固態(tài)的步進(jìn)衰減器﹐其使用壽命特久（因無(wú)機(jī)械接觸）﹐而且特別適用于自動(dòng)生產(chǎn)和檢測(cè)用途上經(jīng)常變化的輸出電平測(cè)量。
在調(diào)制功能方面﹐LG 3236配備了一個(gè)高質(zhì)量的立體聲FM 調(diào)制器。AM 調(diào)制器可達(dá)100％的調(diào)制。另外﹐LG 3236還配備了 AM/FM 同時(shí)調(diào)制功能（2音頻系統(tǒng)）和DDS AF振蕩器﹐其頻率范圍為 20 Hz 至 20 kHz。
本機(jī)具有FM立體聲調(diào)制器和FM/AM同時(shí)調(diào)制功能 。
LG 3236是頻率合成標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器﹐其頻率范圍很寬﹐從100 kHz 至 170 MHz﹐包括FM/AM 調(diào)制能力。高度的晶控參考振蕩器可以保證高穩(wěn)定性的RF頻率﹐穩(wěn)定性可達(dá) 5 10-6﹐即5 ppm。
RF 輸出系統(tǒng)采用固態(tài)的步進(jìn)衰減器﹐其使用壽命特久（因無(wú)機(jī)械接觸）﹐而且特別適用于自動(dòng)生產(chǎn)和檢測(cè)用途上經(jīng)常變化的輸出電平測(cè)量。
在調(diào)制功能方面﹐LG 3236配備了一個(gè)高質(zhì)量的立體聲FM 調(diào)制器。AM 調(diào)制器可達(dá)100％的調(diào)制。另外﹐LG 3236還配備了 AM/FM 同時(shí)調(diào)制功能（2音頻系統(tǒng)）和DDS AF振蕩器﹐其頻率范圍為 20 Hz 至 20 kHz。
本機(jī)具有FM立體聲調(diào)制器和FM/AM同時(shí)調(diào)制功能 。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 紅外熱像儀
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 美國(guó)BK PRECISION
- ADCMT愛德萬(wàn)ADVANTEST
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
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- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
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